作为环境可靠性测试领域的革新型设备，本系列快速温变试验箱突破性实现±10℃/min精准斜率控制，配合800mm超大纵深测试舱体（较传统机型提升90%容积），为半导体及电子元件行业提供高效可靠的测试解决方案。

核心技术创新亮点：
精密温控系统：采用多级PID算法与T型热电偶矩阵监测，实现±0.3℃的温度均一性，确保JESD22-A104F（半导体封装可靠性）与IPC-9701（PCB可靠性）测试标准的严苛要求
智能负载补偿：通过动态风道调节技术，在-65℃~+125℃温域内保持10℃/min线性变温速率，有效缩短30%测试周期
模块化测试架：可扩展式分层结构设计，支持最大2000×2000×800mm测试工装，单次处理试样量达传统设备2.3倍
经CNAS认证实验室验证，该设备在持续1000次-40℃↔+125℃循环测试中，温度恢复时间稳定在2.8±0.2分钟，完全满足JEDEC JESD22-A104F Class C（车载电子）最高等级验证需求。

本产品特别适用于：
▶ 车规级芯片高加速寿命试验（HALT）
▶ 5G通讯模组温度冲击验证
▶ 航空航天电子部件筛选测试
▶ 新能源电池包极限环境模拟