快速温度变化试验箱TC-20F-408S
符合JEDEC/IPC标准，可达到20℃/min
此款快速温度变化试验箱，既能对应JEDEC试验标准又能做筛选测试。
除已有的15℃/min外，现新增了可以20℃/min控制样品温度斜率的高性能型号。
不仅适用于封装电路板，还能满足功率半导体的温度循环测试需求。

对试样温度可达到20℃/min的斜率控制
通过对试样温度的斜率控制,可以进行更精确的寿命评估。

符合JEDEC/IPC标准
符合半导体封装可靠性测试标准JESD22-A104F以及电路板评估测试的实际标准IPC-9701。

符合IEC 60068-2-14标准修订版的要求
电子和汽车市场等领域使用的国际标准IEC 60068-2-14测试Nb（恒速温度变化测试）已修订，增加了更严格的20℃/min的温度变化速率测试要求。TC-20X-408S符合最新IEC标准的要求。